產(chǎn)品目錄 代理產(chǎn)品 顯微操作儀 核磁共振（NMR） 原子吸收光譜（AAS） 儀器鑒定用標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì) 切片機(jī) 納米壓痕儀、劃痕儀 恒溫/加熱/干燥 樣品前處理 納米粒度儀 納米粒度儀DLS 90 接觸角測(cè)量?jī)x 高溫接觸角測(cè)量?jī)x 表面接觸角測(cè)試儀 接觸角測(cè)量?jī)x 國產(chǎn)接觸角 接觸角 經(jīng)濟(jì)型光學(xué)接觸角測(cè)量?jī)xALPHA 動(dòng)態(tài)接觸角測(cè)量?jī)x 靜態(tài)水接觸角 光學(xué)接觸角 水滴角測(cè)試儀 自動(dòng)型接觸角分析儀 膜厚儀 白光干涉測(cè)厚儀 表面張力儀 全自動(dòng)表面張力儀 光譜部件及外設(shè) 光纖光譜儀 拉曼光譜儀 顯微共聚焦拉曼光譜儀 進(jìn)口拉曼光譜儀 手持拉曼光譜儀 便攜式拉曼儀器 CVRam顯微拉曼光譜儀 WITec RISE拉曼-掃描電鏡聯(lián)用系統(tǒng) 差示/熱重/差熱/熱分析 熱機(jī)械分析儀TMA7000系列 熱重-差熱同步分析儀-日立-STA7200 紅外光譜（IR、傅立葉） PerkinElmer 紅外光譜儀 Spectrum Two 400/400N 傅里葉變換紅外/近紅外成像系統(tǒng) 掃描探針顯微鏡/原子力 高速共聚焦成像儀 激光粒度儀、納米粒度儀 界達(dá)電位 粒徑量測(cè)儀ELSZ-2000ZS Microtrac S3500SI圖像激光粒度分析儀 Microtrac S3500系列激光粒度分析儀 EKO DisperSizer DS-1 粒度分布分析器 低溫恒溫器 牛津儀器光學(xué)恒溫器 牛津儀器無液氦光譜學(xué)恒溫器Optistat Dry 熒光分光光度計(jì)（分子熒光 天美熒光分光光度計(jì) FL970 絕對(duì)量子效率測(cè)量系統(tǒng)Quantaurus-QY PF7/5/3系列原子熒光光度計(jì) 絕對(duì)量子效率測(cè)量系統(tǒng) X射線衍射儀（XRD） BRAGG系列X射線衍射儀 XD-2/XD-3/XD-6自動(dòng)X射線粉末衍射儀 PROTO AXRD Theta/Theta X射線衍射儀 PROTO AXRD 臺(tái)式X-射線衍射儀 海鷗- DRON-7（M）通用X射線晶體衍射儀 普析通用 XD6多晶衍射儀 普析通用 XD2/3系列多晶衍射儀 激光光散射儀 三維光散射儀LS 3D-DLS 一體式廣角靜態(tài)動(dòng)態(tài)同步激光散射儀 掃描電鏡（SEM） 原子力顯微鏡一體機(jī) FEG系列” 場(chǎng)發(fā)射環(huán)境掃描電子顯微鏡 FEI “Quanta系列”環(huán)境掃描電子顯微鏡” FEI “Q系列”掃描電子顯微鏡 賽可 3200M 經(jīng)濟(jì)型臺(tái)式掃描電鏡 電化學(xué)工作站 多通道電化學(xué)工作站 單通道電化學(xué)工作站 X熒光光譜XRF能量色散型 X射線熒光光譜儀 分析儀器-光譜 顯微角分辨光譜儀 紫外可見分光光度計(jì) 透反射率測(cè)量?jī)x 透反射率測(cè)量?jī)xRT100 等離子清洗機(jī) 真空等離子清洗機(jī) 大氣常壓等離子清洗機(jī) 光學(xué)顯微鏡 位移臺(tái) 熒光顯微鏡 金相顯微鏡 體視顯微鏡 力學(xué)測(cè)試儀 水平力學(xué)試驗(yàn)機(jī) 扭矩試驗(yàn)機(jī) 萬能材料試驗(yàn)機(jī) 表面/界面性能測(cè)定儀 粉末潤(rùn)濕性分析儀 展開 推薦產(chǎn)品 KF100表界面張力測(cè)試儀 納米粒度儀分析儀 你的位置：首頁 > 產(chǎn)品展示 產(chǎn)品展示 暫時(shí)沒有信息 共 0 條記錄，當(dāng)前 1 / 1 頁 首頁 上一頁 下一頁 末頁 跳轉(zhuǎn)到第頁
